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—— Peter Huang
—— M. Hussain
—— M. Paul Garry
Nous avons obtenu le test de fiabilité des trous enterrés par HDI.
Le test de résistance au courant HCT de la carte de circuit imprimé HDI est une méthode d'essai pour tester la fiabilité de l'interconnexion des trous des produits de carte de circuit imprimé, et actuellement, les fabricants (OPPO, VIVO,Amaz) et d'autres fabricants ont besoin de fournisseurs de cartes imprimées pour introduire le test HCTL'essai de résistance au courant consiste à appliquer un certain courant continu sur la chaîne de trou spécialement conçue, et pendant une période de temps, le courant produit un chauffage en Joule sur la chaîne de trou,et la chaleur est transférée au substrat près de la chaîne de trou, et le substrat est chauffé et dilaté pour produire une contrainte d'expansion en direction Z entraînant une rupture du trou aveugle, afin de détecter les performances de fiabilité de l'interconnexion de la chaîne de trou